3.EMI初步診斷步驟

我們提出一套EMI診斷上的參考驟﹐希望用有系統的方式﹐快速的找出EMI的問(wèn)題。我們并不準備探討一些理論計算或公式推演﹐將從實(shí)務(wù)上說(shuō)明。

當一個(gè)產(chǎn)品無(wú)法通過(guò)EMI測試﹐首先就要有一個(gè)觀(guān)念﹐找出無(wú)法通過(guò)的問(wèn)題點(diǎn)﹐此時(shí)千萬(wàn)不能有主觀(guān)的念頭﹐要在那些地方下對策。常常有許多有經(jīng)驗的EMI工程師﹐由于修改過(guò)許多相關(guān)產(chǎn)品﹐對于產(chǎn)品可能造成EMI問(wèn)題的地方也非常了解﹐而習慣直接就下**﹐當然一般皆可能非常有效﹐但是偶而也會(huì )遇到很難修改下來(lái)﹐*后發(fā)現問(wèn)題的關(guān)鍵都是起行認為不可能的地方﹐之所以會(huì )種疏失﹐就是由于太主觀(guān)了。因此﹐不論產(chǎn)品特性熟不熟﹐我們都要逐一再確認一次﹐甚而多次確認。這是因為造成EMI的問(wèn)題往往是錯綜復雜﹐并非單一點(diǎn)所造成。故反復的做確認及診斷是非常重要的。

我們將初步的診斷步驟詳列于下﹐并加以說(shuō)明其關(guān)鍵點(diǎn)﹐這些步驟看來(lái)似乎非常平凡簡(jiǎn)單﹐不像介紹對策方法各種理論秘籍絕招層出不窮﹐變化奧妙。其實(shí)﹐許多**EMI工程師在其對策處理時(shí)﹐大部份的時(shí)間都在重復這些步驟與判斷。筆者要再次強調﹐只有真正找到造成EMI問(wèn)題的關(guān)鍵﹐才是解決EMI的*佳途徑﹐若僅憑理論推測或經(jīng)驗判斷﹐有時(shí)反而會(huì )花費更多的時(shí)間和精力。

■步驟一

將桌子轉到待測（EUT）*大發(fā)射的位置﹐初步診斷可能的原因﹐并關(guān)掉EUT電源加以確認。

（說(shuō)明） 

由于EMI測試上﹐EUT必須轉360度而天線(xiàn)由1m到4m變化﹐其目的是要記錄輻射*大的情況。同樣地﹐當我們發(fā)現無(wú)法通過(guò)測試時(shí)﹐首先我們先將天線(xiàn)位置移到噪聲接收*大高度﹐然后將桌子轉到*差角度﹐此時(shí)我們知道在EUT面對天線(xiàn)的這一面輻射*強﹐故可以初步推測可能的原因﹐如此處屏蔽不佳或靠近輻射源或有電線(xiàn)電纜經(jīng)過(guò)等。

另外須注意的是要關(guān)掉EUT的電源﹐看噪聲是否存在﹐以確定噪聲確實(shí)是由EUT所產(chǎn)生。曾見(jiàn)測試Monitor一直無(wú)法解決某一點(diǎn)的干擾﹐結果其噪聲是由PC所造成而非Monitor的問(wèn)題﹐亦有在OPEN SITE測試Monitor發(fā)現某幾點(diǎn)無(wú)法通過(guò)﹐由測試接收儀器的聲音判斷應是Monitor產(chǎn)生﹐結果關(guān)掉電源發(fā)現噪聲依然存在﹐所以關(guān)掉EUT電源的步驟是必須的﹐而且通常容易被忽略。